产品简介

清洁度分析的高精度解决方案(图像分析仪/显微镜软件）

在制造业和制药工业中，颗粒污染的测量是至关重要的。这些微粒造成的损害通常会对机器产生有害影响，对药品产生有害影响。Clemex PSFILTER是专门设计，通过测量收集在膜过滤器、晶片、胶带提升机或凝胶包上的颗粒来分析不同区域的污染。

金属、非金属和纤维颗粒均在一次运行中进行分析。

3步完成颗粒分析

将样品放在样品架上，选择一种方法，单击“开始”，并在几秒钟内将结果制成表格。 分析是可重复和可追溯的。 是否需要修改运行？ Clemex PSFilter带有可修改参数的完整列表，可让您自定义运行。

产品特点

表征清洁度

使用Clemex PSFilter，您可以通过生成具有统计意义的数据，使用图像分析来理解样品材料，并且与激光微粒计数（LPC）相反，分析是可重复的。

查看整个样本

Clemex PSFilter接受不同类型的样品：膜滤器，威化饼，胶带提升器和凝胶包装。 使用专用支架和自动平台，软件控制的显微镜或宏观镜可以在几分钟内扫描并绘制样品图。

需要细节或速度

如需要速度，则将Clemex PSFilter与宏观镜配合使用将产生5微米及以上颗粒的结果。 如果重要的细节很重要，则使用显微镜将渲染0.5微米及以上的颗粒。

符合标准

Clemex PSFilter允许从预编程的标准中进行选择，例如IESTSTD-CC1246D，ISO 16232，ISO 4406-4407或USP788。它还提供了自定义其属性的选项，以便可以应用内部标准。

应用