双束电镜(FIB-SEM)是一款集成了电子束和离子束的电子显微镜系统。SEM镜筒提供高分辨成像能力,FIB镜筒能在成像的同时对样品进行加工处理。
XEIA3 集高分辨成像能力和优异的微细加工于一体。强大且快速的微/纳米 FIB 加工、低能电子束下的高分辨率(UHR)、快速且可靠的微量分析和三维重构功能,使得 XEIA3 成为一款理想易用的 FIB-SEM 系统。TESCAN 的定制化系统能满足各类客户的具体需求。从材料科学到生命科学,从材料工程到半导体行业,TESCAN 的设备一直都表现出高性能。